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2011.07.23 (18:23:10)

QSG 750 II

QSG750모델 QSG750 II스파크 방출 분광계는 단일 또는 여러 가지 매트릭스를 분석 할 수 있으며 최저 검출 한계가 낮으며, 재현성의 높은 데이터와 함께 모든 응용 프로그램을 제공 합니다. 시험 분석 연구 기관, 대형 제철 공장 또는 저 농도 분석이 요구되는 고객에 적합합니다.

 

모델 QSG750 II QSN750 II모델과 같은 사양이 많습니다. 온도 안정화 750mm 초점거리의 진공 광학 구역, 자동 전극 청소 장치를 장착 할 수 있는 스파크 스탠드 및 Gated Digital Source(GDS) 기술은 QSN750 II과 동일하게 데이터의 높은 재현성을 유지시키며 정확한 재료의 분석을 보장합니다.

 

모델 QSG750 II의 주요 차이점은 OBLF 개발한 GISS(Gated Integration of Single Spark) 기술을기반으로 한 데이터 통합 시스템입니다. 모든 측정 채널의 단일 스파크에 대한 개별적인 신호들을 시간적 어플리케이션을 가지고 농도를 계산하며 시료의 미세한 구성에 대한 중요한 정보를 제공합니다. GISS 기술은 개재물의 분석 및 검출 뿐만 아니라 불균일 시료의 검출 및 분해 또는 분해되지 않는 구성(, 철강에서의 알루미늄)을 알 수 있습니다. OBLFWin 소프트웨어에서 장비를 최상으로 사용하기 위하여 옵션 기능을 만들 수 있으며, 일반 사용 기능(materials control, 자동 프로그램 선택 등) 뿐만 아니라 불량 시료가 감지되었을 때나 개재물을 분석할 때 추가적인 기능들을 심플한 파라메터로 제공합니다. 또한 모든 GISS 데이터는 다른 컴퓨터에서 볼 수있도록 데이터 전송을 할 수 있습니다.

 

Time Resolved 분석법은 분광 간섭을 줄이고 최저 검출 한계를 향상시킬 수 있습니다. 순수 금속의 분석에 새로운 지평이 열리고 있습니다.

QSG750 II 모델의 많은 응용 프로그램과 많은 기능은 모두 수동 및 자동 조작이 가능합니다. 자동화 시스템과 연결되는 경우에는, 스파크 전극의 자동 청소 장치를 내장하여 자동 시료 연마 장치 및 시료 처리 로보트와 결합되며, 분석 결과는 네트워크 연결을 사용하여 메인 컴퓨터 시스템에 온라인으로 전송됩니다. 통합 소프트웨어 모듈은 분석 컨트롤 및 recalibration 시료를 포함한 분광계의 기능을 제어하고 모니터링 합니다.

 

분광계를 운영하고 소프트웨어를 사용하는 방법에 대한 정확한 내용은 당연히 장비의 설치와 함께 제공됩니다.  고객은 단지 전원과 아르곤 가스만 준비하시면 됩니다.

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